产品聚焦—Ceyear 6433系列光波元件分析仪
Date：
2021-05-26
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Ceyear 6433系列光波元件分析仪产品集成了电电测试、电光测试、光电测试、光光测试4种测试模式，具有对数幅度、线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式，配置USB、LAN、GPIB、VGA等多种标准接口，能够精确测量光电网络的幅频特性、相频特性和群时延特性。
6433系列光波元件分析仪
产品包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4个产品型号，分为双端口和四端口两种机型，主要应用于高速宽频电光器件（电光调制器、直调激光器、TOSA）、光电器件（PD、PIN、APD、ROSA）、光光器件（光衰减器、EDFA）的频响参数测试，是光芯片、光器件、光收发组件、光电仪器、光通信系统等科研、生产及计量过程中高效的测试设备。
（1）一体化多功能测试向导界面
6433系列光波元件分析仪具备电电、电光、光电、光光四种测量模式，功能模式之间可任意切换，满足了目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。集成式的参数设置方便用户快速完成光波参数、光路去嵌入参数、射频去嵌入参数的设置及一键测试。
一体化多功能测试界面
（2）一键式电光/光电/光光器件快速扫频测试
6433系列光波元件分析仪采用微波模块、光波模块一体化集成设计方案，构建高精度光电网络误差模型，利用核心校准算法，实现电光/光电/光光器件一键式宽带快速扫频测试。针对电光调制器、直接调制激光器等电光器件的S11参数和S21参数测试，利用多窗口显示可快速获取测试对象的各频点反射和传输特性；针对光电探测器、ROSA、TIA集成组件等光电器件的S22参数和S21参数测试，利用光标功能可快速分析3dB带宽，评估器件的频响特性；针对光纤滤波器等光光器件的S21参数测试，可快速实现损耗、平坦度等指标的测量。
光电器件S21参数及S22参数曲线
电光器件相位曲线
（3）平衡光电/电光器件测试
6433系列光波元件分析仪可通过选配四端口机型，实现平衡光发射或光接收器件对差分增益和共模抑制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。
平衡ROSA器件连接示意图及混合模S参数示意图
平衡ROSA测试示意图
（4）校准类型及校准件灵活可选
6433系列光波元件分析仪提供向导校准、非向导校准、电校准等多种校准类型，可根据实际测试需要选择同轴机械校准件或电子校准件等多种校准件，方便不同接口类型器件的测试。
机械校准件及电子校准件
（5）多窗口快速显示及分析
6433系列光波元件分析仪最多支持64个测量通道，32个测量窗口，每个窗口最多可同时显示16条测试轨迹，可实现结果的多窗口、多格式显示；高分辨率多点触控电容屏可快速实现各种输入和选择操作，快捷高效，便于用户快速分析数据，为用户提供全新的光波元件分析仪使用体验。
多窗口快速显示及分析
（6）迹线噪声小，动态范围大
6433系列光波元件分析仪采用混频接收的设计理念，使用高精度和响应平坦的核心器件，结合通过设定不同中频带宽和平均，可获得更大的动态测量范围和更小的轨迹噪声，可以获取测量结果的更多细节，满足用户对大动态范围、高精度的测试需求。
迹线噪声和动态范围示意图
（7）夹具数据自动移除
6433系列光波元件分析仪通过光路去嵌入和射频去嵌入可将接入测试链路中的夹具进行自动移除。当测试链路中引入电夹具或光夹具时，用户可选中射频去嵌入、光路去嵌入的使能状态，导入夹具参数文件，进行自动夹具数据移除，提升测量精度。尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。
在片测试示意图
（8）多功能工具箱
6433系列光波元件分析仪内置大动态范围光功率计，可实时监测输入光功率数值，通过高级设置，可将光发射模块设定为保偏激光源输出模式（CW）模式，消光比大于20dB，为MZ型LiNiO3调制器提供所需的保偏光源。测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。
多功能工具箱